彼爱姆15J测量显微镜

彼爱姆15J测量显微镜

  • 品牌 彼爱姆|BM
  • 型号 15J
  • 商品详情

    用途

    15J测量显微镜是光学计量仪器之一种,它的结构简单,操作方便,适用范围极广,主要用途如下

    1.直角坐标中测定长度,例如测定孔距、基面距离、刻线距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、通孔外圆直径等等。

    2.转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。

    3.用作观察,以比较法检查工作表面粗糙度,鉴定冶金工业的矿石标本,检定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。

    技术规格

    测量工作台读数装置主要规格

    X轴移动测量范围:50mm

    Y轴移动测量范围:13mm

    测微器分度值:0.01mm

    测量台转动范围:不限

    测量台刻度盘分度范围:0°~360°

    测量台刻度盘之分度值:1°

    测量台刻度盘游读数示值:6′

    3.测量精度:

    仪器示值误差:±(4+L/15 )um

    仪器示值误差:包括测量误差与仪器系统误差。

    注:测量地点温度变化(20±3)℃

      L-被测件长度(mm)

    4.仪器之主要尺寸:

    测量台与物镜间之最大距离:80mm

    测量工作台直径:120mm

    物 镜 目 镜 显微镜
    放大倍数
    工作距离 (mm) 视场直径(mm)
    放大倍数 焦距 (mm) 放大倍数 焦距 (mm)
    2.5X/0.08 43.40 10X 25.00 25X 58.84 5.6
    10X/0.25 17.13 100X 7.81 1.4