上海物光显微熔点仪SGW X-4A

上海物光显微熔点仪SGW X-4A

  • 品牌 仪电物光|INESA
  • 型号 SGW®X-4A
  • 商品详情

    产品特征

    1、仪器采用显微镜观察方法,具有二种测试模式,既可用(毛细管法)测定,又可用(载玻片-盖玻片法)测量,测试样品面广。

    2、工作台选用(热台法)测定,保证了测量精度稳定性、重复性。

    3、特制的防风罩,减少了环境对测试结果的影响。

    4、显微熔点仪是作为教学仪器的最好选择。

    技术参数

    仪器型号

    SGW® X-4A

    测量范围

    室温~320 ℃

    测量方法

    目视

    测量模式

    毛细管法、热台法

    最小示值

    0.1℃

    重复性

    ≤200℃  ±1℃

    >200℃  ±2℃

    观察方式

    单目显微镜

    放大镜倍数

    40×

    电源

    220V±22V,50Hz±1Hz

    仪器尺寸

    30mm×22mm×44mm

    仪器净重

    4.5kg