上海物光显微熔点仪SGW X-4B

上海物光显微熔点仪SGW X-4B

  • 品牌 仪电物光|INESA
  • 型号 SGW®X-4B
  • 商品详情

    产品特征

    1、仪器采用显微镜观察方法,既可用毛细管法测定,又可用载玻片-盖玻片法(热台法)测定;

    2、带有防风罩,减少了环境对测试结果的影响。

    技术参数

    仪器型号

    SGW® X-4B

    测量范围

    室温~320 ℃

    测量方法

    目视

    测量模式

    毛细管法、热台法

    最小示值

    0.1℃

    重复性

    ≤200℃  ±1℃

    >200℃  ±2℃

    观察方式

    双目体视显微镜

    放大镜倍数

    40×-100×变倍

    电源

    220V±22V,50Hz±1Hz

    仪器尺寸

    30mm×22mm×44mm

    仪器净重

    4.5kg