上光六厂测量显微镜（数显式）15JE
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数显测量显微镜15JE可直接读出测量结果，结构简单，操作方便，使用范围极广，主要用途如下：①直角坐标中测定长度，例如测定孔径、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、瞳孔外圆直径等。②转动度盘测定角度，例如对刻度盘，样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。③用作观察显微镜，以比较法检查工作表面光洁度，签定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版，检验纺织纤维等。总放大倍数：25X-100X
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技术参数：
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光学系统规格 |
目镜 |
10X 带十字尺 焦距：25.00mm |
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物镜 |
2.5X/0.08 焦距：43.40mm |
10X/0.25 焦距：17.13mm |
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显微镜放大倍数 |
25X |
100X |
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工作距离 |
58.84mm |
7.81mm |
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视场直径 |
5.60mm |
1.40mm |
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测量工作台读数装置主要规格 |
X轴移动测量范围 |
50.00mm |
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Y轴移动测量范围 |
13.00mm |
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测微器分度值 |
0.01mm |
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测量台转动范围 |
不限 |
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测量台刻度盘分度范围 |
0º ～ 360º |
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测量台刻度盘之分度值 |
1 º |
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测量台刻度盘游读数示值 |
6′ |
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测量精度 |
仪器示值误差 |
±（5+L/15）微米 L—被测件长度(mm) |
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仪器示值误差 |
包括测量误差与仪器系统误差 |
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环境温度变化 |
(20 ± 3) ºC |
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仪器主要尺寸及重量 |
测量台与物镜间最大距离 |
80mm |
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测量工作台直径 |
120mm |
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仪器外形尺寸 |
325 × 262 × 220 （mm） |
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包装尺寸 |
375×285×250（mm） |
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仪器重量 |
10.5kg |
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