彼爱姆BM-107JE精密测量显微镜

彼爱姆BM-107JE精密测量显微镜

  • 品牌 彼爱姆|BM
  • 型号 BM-107JE
  • 商品详情

    产品介绍

    BM-107JE型测量显微镜是一种小型二维数显测量的计量仪器,仪器主要采用透、反射照明方式。

    通过观察和数显系统对精密件的几何量(长度、角度)进行观察、分析、测量。

    特别适用于大规模集成电路线宽、小型零件(如钟表零件)及其他精密件几何参数的测量。

     仪器可以连接CCD进行影像测量。仪器体积小、重量轻、可广泛应用于计量室、生产作业线以及科学研究部门。

    技术参数

    光学系统 无限远正像光学系统
    观察方式 目镜筒 1、30°铰链式三目头(48mm-75mm) 
    2、0.3XCCD适配镜
    光学方式 透射、反射
    物镜参数 倍率 5X 10X 20X 50X
    视场直径(mm) 34 17 8.5 3.5
    工作距离(mm) 14.47 16.01 10.5 5.1
    目镜参数 WF10X/Φ22mm
    WF10X/Φ20mm带0.1mm十字分划板
    测量范围 工作台测量范围:50×50mm
    圆工作台角度测量范围:0°~360°
    分度值 X,Y方向分度值:0.001mm
    圆工作台游标分度值:5′
    测量精度 仪器示值误差±(4+L/25)μm, L-被测件长度mm
    调焦装置 粗微动同轴调焦行程:150mm,微m动格值:0.002mm
    照明装置

    反射照明:柯勒照明, LED(3W), AC100V-240V

    透射照明:LED(3W), AC100V-240V

    仪器主要尺寸 工作台:200×200mm,测量工作台直径120mm , 
    玻璃工作台直径75mm
    选购件

    无限远长工作距离物镜:80X(WD=2.76mm)、

    100X(WD=3.1mm)

    日本三丰Mitutoyo 数显测微手轮 分辨率0.001mm 公英制转换
    Z向辅助测量装置
    二维测量软件

  • 上光六厂测量显微镜(数显式)15JE

    上光六厂测量显微镜(数显式)15JE

  • 品牌 上光六厂|SOIF
  • 型号 15JE
  • 商品详情

    数显测量显微镜15JE可直接读出测量结果,结构简单,操作方便,使用范围极广,主要用途如下:①直角坐标中测定长度,例如测定孔径、基面距离、刻线宽度、键槽宽度、狭缝宽度、瞳孔外圆直径等。②转动度盘测定角度,例如对刻度盘,样板、量规、钻孔模板及几何形状复杂的零件进行角度测量。③用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,签定冶金工业的矿石标本。检定印刷照相制版,检验纺织纤维等。总放大倍数:25X-100X
    标签:显微镜|测量显微镜|数显测量显微镜|数显测量显微镜15JE

      技术参数: 

    光学系统规格

    目镜

    10X 带十字尺 焦距:25.00mm

    物镜

    2.5X/0.08 焦距:43.40mm

    10X/0.25 焦距:17.13mm

    显微镜放大倍数

    25X

    100X

    工作距离

    58.84mm

    7.81mm

    视场直径

    5.60mm

    1.40mm

    测量工作台读数装置主要规格

    X轴移动测量范围

    50.00mm

    Y轴移动测量范围

    13.00mm

    测微器分度值

    0.01mm

    测量台转动范围

    不限

    测量台刻度盘分度范围

    0º ~ 360º

    测量台刻度盘之分度值

    1 º

    测量台刻度盘游读数示值

    6′

    测量精度

    仪器示值误差

    ±(5+L/15)微米 L—被测件长度(mm)

    仪器示值误差

    包括测量误差与仪器系统误差

    环境温度变化

    (20 ± 3) ºC

    仪器主要尺寸及重量

    测量台与物镜间最大距离

    80mm

    测量工作台直径

    120mm

    仪器外形尺寸

    325 × 262 × 220 (mm)

    包装尺寸

    375×285×250(mm)

    仪器重量

    10.5kg