用途
9J光切法显微镜是以光切法测量零件加工表面的微观不平度。适用于测量1.0～80微米即原标准▽3-▽9级表面光洁度。

对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。 

光切法特点是在不破坏表面的状况下进行的。

是一种间接测量方法。即要经过计算后才能确定纹痕的不平度。

技术参数

1、摄影装置放大倍数：约6X

2、测量不平度范围 ：0.001～0.08mm

3、不平宽度： 用测微目镜： 0.0007～2.5mm；用坐标工作台：0.01～13mm

4、仪器重量： 约23kg

5、外形尺寸： 约180×290×470mm

显微镜特点：
显微镜9J是以光切测量另件加工表面的微观不平度。其能判国家标准GB1031-68所规定▽3-▽9级表面光洁度。（表面粗糙度12.5-0.2）对于表面划痕、刻线或某些缺陷的深度也可用来进行测量。

技术参数：
1.本仪器在原有的基础上进行了光学系统升级，明场成像更清晰，避免看不清测量读数刻线。
2.配备粗微动同轴调焦系统，粗动松紧可调，微动格值:2μm，使之更加准确的找到成像面。
3.一体化结构机身，无需另配变压电源，操作简洁、方便。
4. 非接触式测量，不会破坏样品表面层，经过计算后确定纹痕的不平度。