彼爱姆15JF(数显型)测量显微镜

彼爱姆15JF(数显型)测量显微镜

  • 品牌 彼爱姆|BM
  • 型号 15JF
  • 商品详情

    用途

    15JF测量显微镜(数显型)是光学计量仪器之一种,它的结构简单,采用3”TFT显示屏直读,操作方便,适用范围极广,主要用途如下:

    1. 直角坐标中测定长度,例如测定孔距,基面距离,刻线宽度,键槽宽度,狭缝宽度,通孔外圆直径等等。

    2. 转动度盘测定角度,例如对刻度盘、样板、量规、钻孔模块及几何形状复杂的零件进行角度测量。

    3. 用作观察显微镜,以比较法检查工作表面光洁度,鉴定冶金工业的矿石标本。鉴定印刷照相制版,检验纺织纤维等等。

    测量工作台读数装置主要规格

    采用LED上下可调光源,X、Y测量结果均采用3”TFT显示屏直读,公英制转换

    X轴移动测量范围:50mm

    Y轴移动测量范围:13mm

    数显分辨率:0.001mm

    测量台转动范围:不限

    测量台刻度盘分度范围:0°~360°

    测量台刻度盘之分度值:1°

    测量台刻度盘游读数示值:6′

    测量地点温度(20°C±3°C)

    测量精度:仪器值误差±(5+L/15)um

    [注:L—被测件长度(mm)]

    主要尺寸

    测量台与物镜间之最大距离:80mm

    测量工作台直径:120mm

    物 镜 目 镜 显微镜 放大倍数 工作距离 (mm) 视场直径(mm)
    放大倍数 焦距 (mm) 放大倍数 焦距 (mm)
    2.5×/0.08 43.40 10 带分划板 25.00 25× 58.84 5.6
    10×/0.25 17.13 100× 7.81 1.4